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    X射線熒光測厚儀使用過程中的注意事項都有什么?

    更新時間:2022-09-02   點擊次數:418次
      X射線熒光測厚儀是一種功能強大的材料涂/鍍層測量儀器,可應用于材料的涂/鍍層厚度、材料組成、貴金屬含量檢測等領域,為產品質量控制提供準確、快速的分析。在工業領域如電子行業、五金電鍍行業、金屬合金行業及貴金屬分析行業表現出的分析能力,可進行多鍍層厚度的測量。
      X射線熒光測厚儀工作原理:通過高壓產生電子流打入到X光管中靶材產生初級X光,初級X光經過過濾和聚集射入到被測樣品產生次級X射線,也就是我們通常所說的X熒光,X熒光被探測器探測到后經放大,數模轉換輸入到計算機。計算機計算出我們需要的結果。
      X射線熒光測厚儀使用過程中的注意事項:
      1.因該儀器是一種電子儀器,儀器在進行測量之前要預熱。
      2.因X射線熒光分析方法.是對光電子進行大量累積統計的結果.因此測量時間不能太短。足夠的測量時間,盡量減小隨機誤差。
      3.準直器越小,檢測效率和統計平均的效果都將下降,測量程序中所用準直器大小的選擇,應與實際測量應用時相一致。
      4.因為受到可用厚度標準塊的限制,厚度測量示值誤差中所用的標準塊,可根據條件許可。
      5.選擇一到五十標準塊進行測量,選擇的基本原則是:鍍層與基體的材料應與測量程序相一致,厚度的分布應能覆蓋測量程序所用的范圍,當厚度標準塊的數量受限,應盡量選擇與實際測量應用相接近的厚度塊。
      6.如果有必要.可以改變相關的測量條件再進行重復性測量。




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